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• SKU
  :Rasterelektronenmikroskop Used
• Name
  :Jeol Rasterelektronenmikroskop Used
• Price
  :€ 35.000,00
• Stock
  :1
• Condition
  :Used
• Brand
  :Jeol
  

Jeol Typ: Jeol JSM-6490 Jeol Rasterelektronenmikroskop Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)Modernes, hochauflösendes, digitales Rasterelektronenmikroskopmit neuentwickelter Elektronenoptik und intuitiver,graphischer Benutzeroberfläche (GUI) unter Microsoft Windows XP Professional. Geräteausstattung einschließlich folgender Ausstattungsmerkmale: Vergrößerungsbereich: 5 X - 300.000 XBeschleunigungsspannung 0.3 - 30 kVWolframhaarnadel-Kathode (LaB6-Kathode optional)großer vollmotorisierter Probentisch mit exzentrischer Kippung, inkl.Graphische Navigation auf dem ProbenhalterEinfache Probennavigation durch Click-Center-ZoomBildfeldgesteuerte Navigation über 2 NavigatorenRelative Koordinaten-NavigationSpeichern und Wiederanfahren von ProbenpositionenEinstellbares Bildausschnittverfahren der ProbebühneBlldfeldkorrektur während der Rotation über rechnergesteuerte exzentrische RotationBildfeldkorrektur während der Kippung über rechnergesteuerte exzentrische KippungBerechnung des möglichen Kippwinkels anhand der ProbengeometrieAutomatisches Fokus-Nachführen bei Verfahren der Probe in Z-RichtungIntelligente Limit Schalter für die motorisierten Achsen Verfahrweg Probentisch:x=125mmY=100mmz = 5 bis 80 mm (stufenlos)T = -10°C bis+ 90°CR= 360°C (endlos)Sekundärelektronen-Detektor für HochvakuumbetriebNeuartige, superkonische Objektivlinse garantiert höchsteBildauflösung auch bei großen KippwinkelnGarantierte Auflösung Im SE-Bild: 3 nm bei 30 kV und15 nm bei 1 kVGleichzeitige Live-Bilddarstellung mehrerer DetektorenEinfache Probennavigation durch Click-Center-ZoomLeistungsfähige Funktionen zur BildvermessungMovie-Funktion zur Aufnahme dynamischer ProzesseVielseitige Probenkammer mit zahlreichenErweiterungsmöglichkeiten: freie Flansche z. B. für EDX, WDX,EBSD, Kathodolumineszenz etc.Wartungs- und verschleißarmes, leises Pumpsystembestehend aus Vorpumpe, vibrationsfreier hochleistungsdiffusionspumpesowie elektromagnetischer VentilsteuerungUmfangreiche Fehlerabsicherung gegen Fehlbedienungund Ausfall externer MedienErgonomischer, höhenverstellbarer SystemtischREM-Starterkit bestehend aus 2 Probenhaltern,Werkzeugsatz sowie 6 Ersatzkathoden Zusatzausstattung für Rasterelektronenmikroskop Turbomolekularpumpeanstelle der serienmäßigen DiffusionspumpeBei Verwendung einer Turbomolekularpumpe wird für denBetrieb des REM kein Kühlwasser mehr benötigt. Weitere REM-Ausstattung: PC zur Steuerung des REMsinkl. TFT-Monitor ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Stickstofffreies, energiedispersives Röntgenanalysesysteminkl.: SDD-Detektor mit 127 eV oder besserer EnergieauflösungNachweis aller Elemente ab BorVibrationsfrei, wartungsfrei. Peltier gekühlt (stickstofffrei)PulsprozessorTFT-MonitorSpektren Messung und ElementidentiflzlerungVollautomatische, quantitative, standardfreieElementanalyseBildeinzugSuperschnelles qualitatives Line ScanSuperschnelles qualitatives ElementmappingDatenmanagment und -archivierungssystemReporterstellung und ErgebnisausgabeDatenkommunikationInstallation und EinweisungHyperMapMultipoint Analyse Bruker xFlash Detektor (SDD) mit Signalverarbeitungseinheit SVE III Lieferumfang: (Siehe Fotos) Zustand: gebraucht / used (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Bitte erfragen Sie vor Kauf die Transportmöglichkeiten. Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.